Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
Grozdanić, Danijela ; Rakvin, Boris ; Pivac, Branko ; Dubček, Pavo ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid
Structural Characterization of Thin Amorphous Si Films // Annual Report 2007, Austrian SAXS Beamline at Elettra. 2007.
Grozdanić, Danijela ; Rakvin, Boris ; Pivac, Branko ; Slaoui, A. ; Monna, R.
Study of paramagnetic defects in RTCVD polycrystalline silicon // Zbornik radova / Radić, Nikola (ur.). Zagreb, 2002. str. 23-x
Grozdanić, Danijela
Istraživanje defekata u nanokristaliničnom siliciju elektronskom paramagnetskom rezonancijom / Pivac, Branko; Rakvin, Boris (mentor);
Zagreb, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb, . 2000