Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
Medved Rogina, Branka ; Škoda, Peter ; Skala, Karolj ; Michieli, Ivan ; Vlah, Maja ; Marijan, Siniša
Metastability Testing at FPGA Circuit Design using Propagation Time Characterization // Proceedings of East-WestDesign & Test Symposium (EWDTS'10) / Hahanov, Vladimir ; Zorian, Yervant (ur.). Sankt Peterburg: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2010. str. 80-85
