hrvatski

Paralelno-serijska procedura za ispitivanje dugih, logikom okruženih brojila

Ovaj rad opisuje generaliziranu paralelno-serijsku test proceduru za testiranje svih vrsta logikom okruženih brojila. Ova procedura poboljšava upravljivost i osmotrivost brojila i reducira duljinu ispitnog slijeda. Opisane su njezine prednosti i nedostaci. Optimalno dijeljenje primarnog brojila i generacija ispitnog slijeda je provedena pomoću razvijenog programa u Visual Basicu. Za optimalnu ili zadanu razdiobu ovaj program računa potrebnu dodatnu logiku i minimalni broj test vektora.

paralelno-serijska test procedura; brojila; ispitni slijed; test vektor

nije evidentirano