Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Wafer Fusion for Surface-Normal Optoelectronic Device Applications (CROSBI ID 240951)

Prilog u časopisu | izvorni znanstveni rad | međunarodna recenzija

Babić, Dubravko I. ; Bowers, John. E. ; Hu, Evelyn L. ; Yang, Long ; Carey, Kent Wafer Fusion for Surface-Normal Optoelectronic Device Applications // International journal of high speed electronics, 8 (1997), 2; 357-375. doi: 10.1142/S0129156497000135

Podaci o odgovornosti

Babić, Dubravko I. ; Bowers, John. E. ; Hu, Evelyn L. ; Yang, Long ; Carey, Kent

engleski

Wafer Fusion for Surface-Normal Optoelectronic Device Applications

This paper discusses the issues connected with the application of fusion bonding technology for surface-normal optoelectronic devices (III-V semiconductors). The InP/GaAs fusion bonding technology employed in the development of long-wavelength vertical-cavity lasers is described.

Fusion bonding technology ; Surface-normal optoelectronic devices

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o izdanju

8 (2)

1997.

357-375

objavljeno

0129-1564

10.1142/S0129156497000135

Povezanost rada

Povezane osobe



nije evidentirano

Poveznice