hrvatski

Utjecaj kemijskog vezanja na omjer intenziteta Kbeta/Kalpha X-zračenja Cr i Mn za ionizaciju s protonima energije 3 MeV

Analiza uzoraka induciranjem karakterističnog X-zračenja protonima (PIXE) omogućuje određivanje sastava uzoraka i koncentracije pojedinih elemenata u uzorku s vrlo visokom osjetljivošću. U ovom radu primjenjena je spektroskopija PIXE u istraživanju ovisnosti strukture spektra karakterističnog X-zračenja o efektima kemijskog vezanja atoma. Poznavanje ove povezanosti moglo bi dati uvid u elektronsku strukturu tvari i prirodu elektronskih prijelaza. Izvršena su mjerenja omjera intenziteta K_beta/K_alpha karakterističnog X-zračenja kroma i mangana u različitim kemijskim spojevima. Općenito se kod 3d-prijelaznih elemenata, koji su komponente kemijskih spojeva, opažaju promjene intenziteta K_beta5^- (M_IV,V-K) linije u odnosu na intenzitet K_beta5^- linije čistog metala. U našim spektrima se zbog ograničenog energijskog razlučivanja Si(Li) detektora preklapaju vrhovi koji potječu od različitih K_betai prijelaza, tako da nije moguće donijeti točne zaključke o promjenama intenziteta pojedinih linija. Iz prikaza ovisnosti promjene omjera K_beta/K_alpha o oksidacijskom broju možemo jedino zaključiti da postoji tendencija povećanja omjera intenziteta K_beta/K_alpha s oksidacijskim brojem elemenata u spoju. Za pojašnjenje ovog efekta nužna su preciznija mjerenja intenziteta X-zračenja, te dodatni teorijski proračuni utjecaja kemijskog vezanja na valnme funkcije elektrona.

PIXE kemijski efekti; promjene u spektru X-zračenja

nije evidentirano