Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Bipolarni VLSI/ULSI tranzistori s horizontalnim tokom struje (CROSBI ID 338592)

Ocjenski rad | magistarski rad (mr. sc. i mr. art.)

Koričić, Marko Bipolarni VLSI/ULSI tranzistori s horizontalnim tokom struje / Biljanović, Petar (mentor); Zagreb, Fakultet elektrotehnike i računarstva, . 2004

Podaci o odgovornosti

Koričić, Marko

Biljanović, Petar

hrvatski

Bipolarni VLSI/ULSI tranzistori s horizontalnim tokom struje

U radu je prikazan pregled postojećih bipolarnih tehnologija. Opisana su ograničenja vertikalnih i lateralnih bipolarnih tranzistora. Zbog smanjenog volumena parazitnih dijelova, lateralni tranzistori imaju male iznose parazitnih kapaciteta i otpora što ih čini pogodnima za primjene gdje se zahtijeva mala disipacija snage. Nadalje, pogodni su za integraciju u BiCMOS proces. Ispitane su mogućnosti skaliranja lateralnih tranzistora izvedenih u SOI tehnologiji. Izvedene su simulacije električkih karakteristika za strukturu s baznim kontaktom na vrhu i za strukturu s bočno izvedenim kontaktom baze. Pokazano je da su glavna ograničenja postojećih lateralnih tranzistora vezana uz procesiranje intrinsične baze. Tehnološki proces za dobivanje tranzistora s horizontalnim tokom struje (HCBT) omogućava dobivanje optimalnih profila primjesa u intrinsičnom tranzistoru. Pri tome je volumen parazitnih dijelova znatno smanjen u odnosu na vertikalne tranzistore. Ispitane su mogućnosti skaliranja te optimiranja profila primjesa za HCBT strukturu. Pokazano je da su karakteristike HCBT-a ograničene litografijom te da je strukturu potrebno skalirati. HCBT izveden u naprednijoj tehnologiji ima visok iznos frekvencije jediničnog pojačanja (fT) te probojnog napona u spoju zajedničkog emitera (BVCEO). To je posljedica dijeljenja naboja između akceptora iz intrinsične i ekstrinsične baze. Analiziran je efekt dijeljenja naboja te je izvedena optimizacija geometrijskih parametara ekstrinsične baze za bolje rješenje kompromisa između fT i BVCEO. Pokazano je da se BVCEO može povećati za 23.6 %, a da se pri tome fT smanji samo 5.7 %.

vertikalni bipolarni tranzistor; lateralni bipolarni tranzistor; HCBT; skaliranje; frekvencija jediničnog strujnog pojačanja; maksimalna frekvencija osciliranja; probojni napon; ekstrinsična baza; efekt dijeljenja naboja

nije evidentirano

engleski

Horizontal Current VLSI/ULSI Bipolar Transistors

nije evidentirano

vertical bipolar transistor; lateral bipolar transistor; HCBT; scaling; cut-off frequency; maximum oscillation frequency; breakdown voltage; extrinsic base; charge sharing effects

nije evidentirano

Podaci o izdanju

109

05.05.2004.

obranjeno

Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj

Fakultet elektrotehnike i računarstva

Zagreb

Povezanost rada

Elektrotehnika