izvor podataka: crosbi
!
Mechanism of Raman scattering in amorphous silicon (CROSBI ID 468078)
Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa | međunarodna recenzija
Ivanda, Mile ; Gamulin, Ozren ; Kiefer, Wolfgang
Mechanism of Raman scattering in amorphous silicon // Book of Abstracts / Boehm, S., Urban, S., Vlčkova, B., Volka, K. (ur.). Prag: ICT Press, 1998. str. 127-127-x
Podaci o odgovornosti
Ivanda, Mile ; Gamulin, Ozren ; Kiefer, Wolfgang
engleski
Mechanism of Raman scattering in amorphous silicon
The Raman spectra pf a-Si:H samples with different hydrogen concentration were taken at HH and HV polarization geometry.
amorphous silicon; Raman scattering
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
Podaci o prilogu
127-127-x.
1998.
objavljeno
Podaci o matičnoj publikaciji
Podaci o skupu
XXIV EUROPEAN CONGRESS ON MOLECULAR SPECTROSCOPY
poster
23.08.1998-28.08.1998
Prag, Češka Republika
