Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Istraživanje strukture dopiranih materijala pomoću rentgenske difrakcije (CROSBI ID 756422)

Druge vrste radova | ostalo

Gržeta, Biserka Istraživanje strukture dopiranih materijala pomoću rentgenske difrakcije // Institut Ruđer Bošković, 14.07.2003.. 2003.

Podaci o odgovornosti

Gržeta, Biserka

hrvatski

Istraživanje strukture dopiranih materijala pomoću rentgenske difrakcije

U novije vrijeme niz istraživanja iz područja fizike i kemije okrenuto je prema istraživanju svojstava novih materijala, ali isto tako i iznalaženju postupaka kojima će već poznati materijali poboljšati neka svojstva i time postati interesantni za suvremene tehnologije. Pokazalo se da dopiranje materijala izabranim atomima često uzrokuje ovakove promjene, no mehanizam ugradnje atoma dopanda u svim slučajevima nije razjašnjen. Dok se fizička svojstava svakog novog materijala dobro istraže, ispitivanja strukture ostaju najčešće tek na fenomenološkom pristupu zbog činjenice da ih nije moguće prirediti u obliku monokristala. Međutim, upotreba Rietveldove metode za rješavanje kristalne strukture iz polikristalnog uzorka rješava taj problem. Isto vrijedi i za rješavanje strukture dopiranog materijala. No, radovi te vrste ipak nisu česti u literaturi. Prikazana su strukturna istraživanja mulita dopiranog kromom i SnO_2 dopiranog antimonom.

Rentgenska difrakcija; Kristalna struktura; Rietveldova metoda; Dopirani materijali

nije evidentirano

engleski

Structural investigations of doped materials by X-ray diffraction

nije evidentirano

X-ray diffraction; Crystal structure; Rietveld method; Doped materials

nije evidentirano

Podaci o izdanju

Institut Ruđer Bošković, 14.07.2003.

2003.

nije evidentirano

objavljeno

Povezanost rada

Fizika