Istraživanje strukture dopiranih materijala pomoću rentgenske difrakcije (CROSBI ID 756422)
Druge vrste radova | ostalo
Podaci o odgovornosti
Gržeta, Biserka
hrvatski
Istraživanje strukture dopiranih materijala pomoću rentgenske difrakcije
U novije vrijeme niz istraživanja iz područja fizike i kemije okrenuto je prema istraživanju svojstava novih materijala, ali isto tako i iznalaženju postupaka kojima će već poznati materijali poboljšati neka svojstva i time postati interesantni za suvremene tehnologije. Pokazalo se da dopiranje materijala izabranim atomima često uzrokuje ovakove promjene, no mehanizam ugradnje atoma dopanda u svim slučajevima nije razjašnjen. Dok se fizička svojstava svakog novog materijala dobro istraže, ispitivanja strukture ostaju najčešće tek na fenomenološkom pristupu zbog činjenice da ih nije moguće prirediti u obliku monokristala. Međutim, upotreba Rietveldove metode za rješavanje kristalne strukture iz polikristalnog uzorka rješava taj problem. Isto vrijedi i za rješavanje strukture dopiranog materijala. No, radovi te vrste ipak nisu česti u literaturi. Prikazana su strukturna istraživanja mulita dopiranog kromom i SnO_2 dopiranog antimonom.
Rentgenska difrakcija; Kristalna struktura; Rietveldova metoda; Dopirani materijali
nije evidentirano
engleski
Structural investigations of doped materials by X-ray diffraction
nije evidentirano
X-ray diffraction; Crystal structure; Rietveld method; Doped materials
nije evidentirano
Podaci o izdanju
Institut Ruđer Bošković, 14.07.2003.
2003.
nije evidentirano
objavljeno