Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2 (CROSBI ID 330203)

Ocjenski rad | doktorska disertacija

Lučić-Lavčević, Magdy Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2 / Turković, Aleksandra; Tonejc, Anđelka (mentor); Zagreb, Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb, . 1998

Podaci o odgovornosti

Lučić-Lavčević, Magdy

Turković, Aleksandra; Tonejc, Anđelka

hrvatski

Raspršenje rentgenskih zraka sinhrotronskog izvora pri malom kutu i nanofaznom TiO_2

Tanki slojevi TiO2 dobiveni i popuštani različitim postupcima, ispitivani su metodom raspršenja rendgenskih zraka pri malom kutu. Poroznost slojeva omogućila je da se primjenom ove metode odrede dva parametra njihove mikrostrukture, a to su srednja veličina čestica u nanometarskom području i korigirana unutarnja površina sloja. Korišteno je sinkrotronsko zračenje jakog intenziteta a raspršenje je analizirano u refleksnoj geometriji. Interpretacija mjerenih podataka zasnovana je na obliku raspodjele intenziteta raspršenog zračenja po kutovima. Uz pomoć aproksimativnog računa za male kutove raspršenja, procijenjeni su, uz pretpostavku sfernog oblika, srednji promjeri čestica i širina njihove raspodjele po veličini. Pri analizi sloja kao dvofaznog sustava, u kojem jednu fazu čine čestice a drugu pore, uvedena je korigirana unutarnja površina kao parametar mikrostrukture, koji sjedinjuje volumne udjele dviju faza s njihovom relativnom unutarnjom površinom. Predviđeno je ponašanje ovog parametra pri popuštanju poroznih slojeva a račun je provjeren na slojevima TiO2. Pokazano je da korelacija između korigirane unutarnje površine i srednje veličine čestica ukazuje na promjene u mikrostrukturi sloja.

sinkrotronsko zračenje; raspršenje rentgenskih zraka pri malom kutu; tanki slojevi TiO2

nije evidentirano

engleski

Small-angle synchrotron X-ray scattering on TiO_2 nanophase

nije evidentirano

synchrotron radiation; small-angle X-ray scattering; TiO2 thin films

nije evidentirano

Podaci o izdanju

118

29.12.1998.

obranjeno

Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj

Prirodoslovno-matematički fakultet, Zagreb

Zagreb

Povezanost rada

Fizika, Kemijsko inženjerstvo