Problemi integriteta signala kod sub-mikronskih mikroelektroničkih proizvodnih tehnologija (CROSBI ID 345168)
Ocjenski rad | diplomski rad
Podaci o odgovornosti
Liović, Tomislav
Švedek, Tomislav
hrvatski
Problemi integriteta signala kod sub-mikronskih mikroelektroničkih proizvodnih tehnologija
Ovaj diplomski rad se bavi problemima integriteta signala, te načinima njihovog uklanjanja u mikroelektroničkim sklopovima u submikronskom području. Integritet signala uključuje pojave kao što su šum preslušavanja, elektromigracija i IR- pad napona na vodovima napajanja, te signalnim vodovima. Te su pojave to izraženije što je viši stupanj integracije, frekvencija rada sklopa i što su manje minimalne dimenzije komponenata.
šum; integritet; IR-pad napona; signal
nije evidentirano
engleski
Problems of signal integrity at sub-micronic microelectrinic manufacturing technology
nije evidentirano
noise; integrity; IR-voltage drop; signal
nije evidentirano
Podaci o izdanju
62
09.03.2005.
obranjeno
Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj
Osijek
