Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

GISAXS study of SiO/SiO2 superlattice (CROSBI ID 759369)

Druge vrste radova | izvještaj

Pivac, Branko ; Kovačević, Ivana ; Dubček, Pavo ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid ; Slaoui, Abdelilah GISAXS study of SiO/SiO2 superlattice // IBR Elettra Annual Report 2004 Austro SAXS. 2005.

Podaci o odgovornosti

Pivac, Branko ; Kovačević, Ivana ; Dubček, Pavo ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid ; Slaoui, Abdelilah

engleski

GISAXS study of SiO/SiO2 superlattice

The correlation between the structural and optoelectronic properties of Si nanocrystals prepared by a variety of methods is still unresolved problem.

GISAXS; SiO; SiO2; superlattice

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o izdanju

IBR Elettra Annual Report 2004 Austro SAXS

2005.

nije evidentirano

objavljeno

Povezanost rada

Fizika