hrvatski

Projektiranje i mjerenje LIN sučelja i kvadraturnog LC oscilatora izvedenih u submikrometarskoj CMOS tehnologiji

U ovom radu projektirana su i realizirana dva sklopa: LIN (eng. Local Interconnected Network) sučelje i kvadraturni LC oscilator. LIN sučelje i kvadraturni LC oscilator dio su test čipa za ispitivanje elektromagnetske kompatibilnost integriranih sklopova. Čip je izveden u 0, 35 um CMOS visokonaponskoj tehnologiji. Projektirane su dvije verzije LIN sučelja: neoptimizirano sučelje i optimizirano s obzirom na elektromagnetski imunitet. Također su projektirane i dvije verzije kvadraturnog LC oscilatora s dvije različite vrijednosti kapaciteta u titrajnom krugu. Oscilatori su osmišljeni tako da se izvana mogu dodavati induktiviteti različitih vrijenosti i tako mijenjati frekvencija osciliranja. Simulacije su provedene prije i nakon ekstrakcije RC parazitnih komponenata iz topoloških maski LIN sučelja i kvadraturnog LC oscilatora. Za oscilator su modelirana dva kućišta i dodana u simulacijski model kvadraturnog LC oscilatora. Za mjerenja LIN sučelja i LC oscilatora razvijene su tiskane pločice koje su projektirane za rad na frekvencijama do 1 GHz. Pločice su modelirane u 2D elektromagnetskom simulatoru. Mjerenja su uspoređena s rezultatima simulacija i objašnjena su odstupanja. Osim mjerenja elektromagnetskog imuniteta izmjerena je i vođena elektromagnetska emisija za oba LIN sučelja. Mjerenje vođene elektromagnetske emisije provedeno je i za kvadraturni LC oscilator. Prikazani su valni oblici i spektri signala kvadraturnog LC oscilatora za dva različita induktivna opterećenja.

LIN sučelje; LC oscilator; CMOS

nije evidentirano