Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Low-temperature X-ray diffraction examination of In2Se3 (CROSBI ID 131303)

Prilog u časopisu | izvorni znanstveni rad | međunarodna recenzija

Gržeta, Biserka ; Popović, Stanko ; Cowlam, Neil ; Čelustka, Branko Low-temperature X-ray diffraction examination of In2Se3 // Journal of applied crystallography, 23 (1990), 340-341. doi: 10.1107/S0021889890002710

Podaci o odgovornosti

Gržeta, Biserka ; Popović, Stanko ; Cowlam, Neil ; Čelustka, Branko

engleski

Low-temperature X-ray diffraction examination of In2Se3

Indium selenide, In_2Se_3, has been examined by X-ray diffraction in the temperature interval from 300 to 5 K. Coefficients of thermal expansion for the rhombohedral alpha- In_2Se_3 phase in the low- temperature range have been determined and the appearance of the new phase at temperature below ~160 K was confirmed.

indium selenide ; thermal expansion at low temperature ; X-ray diffraction

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o izdanju

23

1990.

340-341

objavljeno

0021-8898

1600-5767

10.1107/S0021889890002710

Povezanost rada

Fizika

Poveznice
Indeksiranost