hrvatski

Istraživanje CdSxSe1-x nanočestica u amorfnoj matrice elektronskom mikroskopijom i difrakcijom

Nanokristalini\v{; ; c}; ; ni materijali dimenzija 1 do 10 nm imaju povoljna svojstva za primjenu u optoelektroni\v{; ; c}; ; kim uredjajima. Nanokristalini\v{; ; c}; ; ni CdS, CdSe i CdS$_x$Se$_{; ; 1-x}; ; $, kada su ugradjeni u amorfnu matricu, nadma\v{; ; s}; ; uju ostale materijale svojom visokom opti\v{; ; c}; ; kom kvalitetom i velikom stabilno\v{; ; s}; ; \'{; ; c}; ; u. Prou\v{; ; c}; ; avali smo komercijalna Schott filter stakla sa nanokristalima CdS$_x$Se$_{; ; 1-x}; ; $ u raznim koncentracijama. Ispitivana je struktura i mikrostruktura ($D= 2.6$ do 6.7 nm) metodama transmisijske elektronske mikroskopije, pogotovo elektronskom difrakcijom. Naime, kod ovih materijala rentgensku difrakciju nije mogu\'{; ; c}; ; e primijeniti tako da je elektronska difrakcija jedina mogu\'{; ; c}; ; a metoda za strukturnu analizu. Rezultati su usporedjeni sa rezultatima dobivenih Raman spektroskopijom. Rezultati pokazuju vrlo dobro slaganje distribucija i srednjih veli\v{; ; c}; ; ina kristalita/\v{; ; c}; ; estica. Time je pokazano, kao \v{; ; s}; ; to smo ve\'{; ; c}; ; prije objavili za druge sisteme, te za slobodne nanokristalne \v{; ; c}; ; estice dobivene ``sol-gel'' metodom [1, 2], da je Raman spektroskopija metoda koja daje izvrsne rezultate pri mikrostrukturnim istra\v{; ; z}; ; ivanjima nanokristalini\v{; ; c}; ; nih materijala.

nanočestice; elektronska mikroskopija i difrakcija

nije evidentirano