hrvatski

Istraživanja tankog pasivnog filma na kositru in-situ i ex-situ tehnikama

Sastav tankog pasivnog filma na kositru, formiranog elektrokemijski pod potenciodinamičkim uvjetima u otopini citratnog pufera pH=6, istraživan je in-situ tehnikom cikličke voltametrije in ex-situ tehnikama rendgenske fotoelektronske spekroskopije (XPS) i Auger-elektronske spektroskopije (AES). Rezultati XPS i AES mjerenja, u kombinaciji sa rezultatima cikličke voltametrije, sugeriraju prisustvo SnO2. xH2O i Sn(OH)4 specija u finalnom pasivnom filmu formiranom na kositar elektrodi kada je ona polarizirana potenciodinamički do anodnog potencijala od 1.8 V (vs. SCE). Čini se da ovaj film ima veći sadržaj Sn(OH)4 specija u području blizu površine filma, a bliže metalu postaje više nalik SnO2 filmu. U filmu formiranom na nižim anodnim potencijalima, tj. u prepasivnom području, prisutne su Sn(OH)2 specije. Molekule vode uključene su u sastav oba filma, finalnog i prepasivnog, posebno u području površine filma. Različite citratne specije vjerojatno su prisutne u sastavu oba filma, kako u porama prepasivnog filma, tako i u "bulku" finalnog filma. Kinetika formiranja pasivnog filma kao i proces starenja pod potenciodinamičkim uvjetima, diskutirani su na temelju mehanističkih kriterija cikličke voltametrije.

kositar; pasivni film; XPS; AES

nije evidentirano