izvor podataka: crosbi
!
Structural Characterization of Thin Amorphous Si Films (CROSBI ID 763800)
Druge vrste radova | izvještaj
Grozdanić, Danijela ; Rakvin, Boris ; Pivac, Branko ; Dubček, Pavo ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid
Structural Characterization of Thin Amorphous Si Films // Annual Report 2007, Austrian SAXS Beamline at Elettra. 2007.
Podaci o odgovornosti
Grozdanić, Danijela ; Rakvin, Boris ; Pivac, Branko ; Dubček, Pavo ; Radić, Nikola ; Bernstorff, Sigrid
engleski
Structural Characterization of Thin Amorphous Si Films
***
Si; thin films; characterization
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
Podaci o izdanju
Annual Report 2007, Austrian SAXS Beamline at Elettra
2007.
nije evidentirano
objavljeno
Povezanost rada
Povezane osobe
Povezane ustanove
