Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

Mjerenje bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje procesiranog u 180 nm CMOS tehnologiji (CROSBI ID 355079)

Ocjenski rad | sveučilišni preddiplomski završni rad

Mavrek, Elena Mjerenje bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje procesiranog u 180 nm CMOS tehnologiji / Suligoj, Tomislav (mentor); Zagreb, Fakultet elektrotehnike i računarstva, . 2008

Podaci o odgovornosti

Mavrek, Elena

Suligoj, Tomislav

hrvatski

Mjerenje bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje procesiranog u 180 nm CMOS tehnologiji

Danas se najcešce upotrebljavaju samo dvije vrste tranzistora: tranzistor s efektom polja-FET (koje karakterizira jeftina tehnologija i mala potrošnja) i bipolarni tranzistori (skuplja tehnologija, bolje elektricke karakteristike) ; ovisno o željenom rezultatu. Ovdje je predstavljena HCBT tehnologija, koja zadržava dobra svojstva izvedbe uz malu površinu tranzistora. Predstavljen je i princip rada bipolarnog tranzistora. Obavljena su mjerenja i prikazani su rezultati mjerenja karakteristika dviju razlicitih vrsta HCBT na odredenim cipovima, sa 3 razlicita wafera. Wafer 6 pokazao se kao najbolji: ima najmanja rasipanja, može raditi na višim naponima i ima vece pojacanje b .

bipolarni tranzistor s horizontalnim tokom struje; mjerenja na čipu; električke karakteristike

nije evidentirano

engleski

Measurements of horizontal-current bipolar transistor fabricated in 180 nm CMOS technology

nije evidentirano

horizontal-current bipolar transistor; measurements-on-chip; electrical characteristics

nije evidentirano

Podaci o izdanju

49

15.06.2008.

obranjeno

Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj

Fakultet elektrotehnike i računarstva

Zagreb

Povezanost rada

Elektrotehnika