Mjerenje bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje procesiranog u 180 nm CMOS tehnologiji (CROSBI ID 355079)
Ocjenski rad | sveučilišni preddiplomski završni rad
Podaci o odgovornosti
Mavrek, Elena
Suligoj, Tomislav
hrvatski
Mjerenje bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje procesiranog u 180 nm CMOS tehnologiji
Danas se najcešce upotrebljavaju samo dvije vrste tranzistora: tranzistor s efektom polja-FET (koje karakterizira jeftina tehnologija i mala potrošnja) i bipolarni tranzistori (skuplja tehnologija, bolje elektricke karakteristike) ; ovisno o željenom rezultatu. Ovdje je predstavljena HCBT tehnologija, koja zadržava dobra svojstva izvedbe uz malu površinu tranzistora. Predstavljen je i princip rada bipolarnog tranzistora. Obavljena su mjerenja i prikazani su rezultati mjerenja karakteristika dviju razlicitih vrsta HCBT na odredenim cipovima, sa 3 razlicita wafera. Wafer 6 pokazao se kao najbolji: ima najmanja rasipanja, može raditi na višim naponima i ima vece pojacanje b .
bipolarni tranzistor s horizontalnim tokom struje; mjerenja na čipu; električke karakteristike
nije evidentirano
engleski
Measurements of horizontal-current bipolar transistor fabricated in 180 nm CMOS technology
nije evidentirano
horizontal-current bipolar transistor; measurements-on-chip; electrical characteristics
nije evidentirano
Podaci o izdanju
49
15.06.2008.
obranjeno
Podaci o ustanovi koja je dodijelila akademski stupanj
Fakultet elektrotehnike i računarstva
Zagreb