Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica, (CROSBI ID 557902)

Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa

Buljan, Maja ; Desnica, Uroš V. ; Radić, Nikola ; Bogdanović Radović, Ivančica ; Ivanda, Mile ; Dražić, Goran ; Karlušić, Marko ; Dubček, Pavo ; Salamon, K. ; Holy, V. Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica, // 6. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva : Knjiga sažetaka / Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor (ur.). Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 2009. str. 43-43

Podaci o odgovornosti

Buljan, Maja ; Desnica, Uroš V. ; Radić, Nikola ; Bogdanović Radović, Ivančica ; Ivanda, Mile ; Dražić, Goran ; Karlušić, Marko ; Dubček, Pavo ; Salamon, K. ; Holy, V.

hrvatski

Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica,

Istraživanje poluvodičkih nanočestica interesantno je iz temeljnih fi- zičkih razloga kao i zbog velikih mogućnosti primjene nanočestičnih materijala. Svojstva takvih materijala uvelike su određena veličinom, oblikom i prostornim rasporedom nanočestica u podlozi u kojoj su nanočestice pripremljene, te unutrašnjom strukturom i sastavom samih nanočestica te prisutnosti defekata u njihovoj kristalnoj strukturi. U predavanju ću izložiti najnovije metode priprave nanočestičnih materijala sa samoorganiziranim Ge nanočesticama u amorfnoj SiO2 podlozi, i metode detaljne karakterizacije dobivenih materijala bazirane na X-zračenju. Metode priprave uključuju formaciju prostorno uređenih Ge nanočestica pomoću ozračivanja Ge+SiO2 višeslojeva kisikovim ionima i posredstvom djelovanja mehanizma morfologije površine tijekom depozicije rasprašenjem u magnetronskom izvoru čestica [1, 2]. Metode karakterizacije uključuju analizu GISAXS (Grazing Incidence Small Angle X-ray Scattering) spektara i difrakcijskih spektara izmjerenih na nanočestičnim materijalima.

poluvodičke nanočestice; samoorganizirajuće Ge nanočestice; SiO2; GISAX

nije evidentirano

engleski

Structural properties of semiconductor nanoparticles

nije evidentirano

semiconductor nanoparticles; selforganizing Ge nanoparticles; SiO2; GISAX

nije evidentirano

Podaci o prilogu

43-43.

2009.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

6. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva : Knjiga sažetaka

Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor

Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo

978-953-7178-12-3

Podaci o skupu

Znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva (6 ; 2009)

predavanje

08.10.2009-11.10.2009

Primošten, Hrvatska

Povezanost rada

Fizika