Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica, (CROSBI ID 557902)
Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa
Podaci o odgovornosti
Buljan, Maja ; Desnica, Uroš V. ; Radić, Nikola ; Bogdanović Radović, Ivančica ; Ivanda, Mile ; Dražić, Goran ; Karlušić, Marko ; Dubček, Pavo ; Salamon, K. ; Holy, V.
hrvatski
Strukturna svojstva poluvodičkih nanočestica,
Istraživanje poluvodičkih nanočestica interesantno je iz temeljnih fi- zičkih razloga kao i zbog velikih mogućnosti primjene nanočestičnih materijala. Svojstva takvih materijala uvelike su određena veličinom, oblikom i prostornim rasporedom nanočestica u podlozi u kojoj su nanočestice pripremljene, te unutrašnjom strukturom i sastavom samih nanočestica te prisutnosti defekata u njihovoj kristalnoj strukturi. U predavanju ću izložiti najnovije metode priprave nanočestičnih materijala sa samoorganiziranim Ge nanočesticama u amorfnoj SiO2 podlozi, i metode detaljne karakterizacije dobivenih materijala bazirane na X-zračenju. Metode priprave uključuju formaciju prostorno uređenih Ge nanočestica pomoću ozračivanja Ge+SiO2 višeslojeva kisikovim ionima i posredstvom djelovanja mehanizma morfologije površine tijekom depozicije rasprašenjem u magnetronskom izvoru čestica [1, 2]. Metode karakterizacije uključuju analizu GISAXS (Grazing Incidence Small Angle X-ray Scattering) spektara i difrakcijskih spektara izmjerenih na nanočestičnim materijalima.
poluvodičke nanočestice; samoorganizirajuće Ge nanočestice; SiO2; GISAX
nije evidentirano
engleski
Structural properties of semiconductor nanoparticles
nije evidentirano
semiconductor nanoparticles; selforganizing Ge nanoparticles; SiO2; GISAX
nije evidentirano
Podaci o prilogu
43-43.
2009.
objavljeno
Podaci o matičnoj publikaciji
6. znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva : Knjiga sažetaka
Buljan, Hrvoje ; Horvatić, Davor
Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo
978-953-7178-12-3
Podaci o skupu
Znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva (6 ; 2009)
predavanje
08.10.2009-11.10.2009
Primošten, Hrvatska