hrvatski

Razvoj testnih struktura i demonstracijskih sklopova za bipolarni tranzistor s horizontalnim tokom struje

U ovom radu predstavljena je nova tehnologija bipolarnog tranzistora s horizontalnim tokom struje. Prikazana je integracija HCBT-a (eng. horizontal current bipolar tranzistor) u 0.18μm CMOS proces. Objašnjene su mjerne metode i testne strukture koje se koriste u poluvodičkoj tehnologiji. U praktičnom dijelu rada projektirane su testne strukture za HCBT. Takoner projektirani su i demonstracijski sklopovi koji se koriste za ispitivanje novih bipolarnih tehnologija i dobivanje informacija o bitnim parametrima tranzistora kao štu su brzina rada, parazitni elementi, potrošnja itd.

bipolarni tranzistor; HCBT (bipolarni tranzistor s horizontalnim tokom struje); ECL (emiterski vezana logika); testne strukture; mjerne metode; demonstracijski sklopovi

nije evidentirano