Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

Upotreba pretražne elektronske mikroskopije (SEM/EDX) za analizu tragova na žarnim nitima automobilskih žarulja (CROSBI ID 168916)

Prilog u časopisu | stručni rad

Barišić-Jaman, Berislav ; Mršić, Gordan ; Špoljarić, Igor Upotreba pretražne elektronske mikroskopije (SEM/EDX) za analizu tragova na žarnim nitima automobilskih žarulja // Vještak (Zagreb), 30 (2010), 1-2; 197-210

Podaci o odgovornosti

Barišić-Jaman, Berislav ; Mršić, Gordan ; Špoljarić, Igor

hrvatski

Upotreba pretražne elektronske mikroskopije (SEM/EDX) za analizu tragova na žarnim nitima automobilskih žarulja

U ovom članku opisana je analiza žarnih niti automobilskih žarulja rađena u svrhu otkrivanja tragova plastične deformacije te tragova čestica stakla razbijenog staklenog balona u graničnim slučajevima djelovanja malih inercijskih sila u prometnim nesrećama u uvjetima kada je otežano utvrđivanje postojanja čestica pomoću optičkog mikroskopa. Vještačenja žarnih niti automobilskih žarulja u prometnim nesrećama vrlo rijetko su obavljana upotrebom SEM/EDX metode (skenirajući elektronski mikroskop (SEM) / energodisperzivni detektor X-zraka (EDX)). Predmet ovog rada je žarna nit žarulje koju koriste automobili za osvjetljavanje ceste i davanje svjetlosnih znakova, odnosno svih svjetlosno-signalnih uređaja na automobilu. Čestice razbijenog stakla balona klasične automobilske žarulje na žarnim nitima žarulja analizirane su SEM/EDX metodom radi utvrđivanja prisutnosti rastaljenog stakla na žarnoj niti koja je bila užarena uslijed prolaska istosmjerne električne struje, veličine nataljenih čestica stakla te kemijski sastav stakla.

žarulja; žarna nit; užarena; hladna; stakleni balon/cilindar; optički mikroskop; elektronski mikroskop; SEM/EDX; rastaljene čestice stakla; nerastaljene čestice stakla

nije evidentirano

engleski

Using scanning electron microscopy (SEM / EDX) for trace analysis in glowing fi lament of car light bulbs

nije evidentirano

light bulbs; tungsten light; glowing; cold; glass balloon/cylinder; optical microscope; scanning electron microscope; SEM/EDX; molten glass particles; solid glass particles

nije evidentirano

Podaci o izdanju

30 (1-2)

2010.

197-210

objavljeno

0352-4337

Povezanost rada

Kemija, Temeljne tehničke znanosti