In situ i ex-situ istraživanja tankih filmova na kositru (CROSBI ID 571594)
Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa | domaća recenzija
Podaci o odgovornosti
Šeruga, Marijan ; Metikoš-Huković, Mirjana
hrvatski
In situ i ex-situ istraživanja tankih filmova na kositru
Kositar oksid, a mješani oksid s indijem formira transparentne električki vodljive stukture radi čega se široko primjenjuje u solarnim ćelijama i poluvodičkoj industriji za izradu LCD ekrana. U ovom radu elektronska struktura i kemijski sastav anodno formiranih filmova na kositru u citratnom puferu istraživani su korištenjem voltametrijske spektroskopije, impedancijske spektroskopije, fotoelektronske i Auger spektroskopije.
kositar oksid; duplex struktura; poluvodička svojstva
nije evidentirano
engleski
In situ and ex situ investigation of thin solid films on tin
nije evidentirano
Sn oxide; duplex structure; semiconducting properties
nije evidentirano
Podaci o prilogu
242-242.
1993.
objavljeno
Podaci o matičnoj publikaciji
XIII. skup hrvatskih kemičara
Podaci o skupu
XIII. Skup hrvatskih kemičara
poster
08.02.1993-11.02.1993
Zagreb, Hrvatska
