hrvatski

Analiza proširenja rendgenskih difrakcijskih linija – kako odrediti mikrostrukturu

Poznavanje mikrostrukture materijala osnovni je cilj u istraživanjima koji se bave ciljanim razvojem novih materijala. Veličina kristalita, raspodjela kristalita po veličini, deformacija kristalita, pogreške u slijedu mrežnih ravnina i dislokacije imaju ključnu ulogu u konačnim svojstvima materijala. Rendgenska difrakcija u prahu predstavlja jednu od osnovnih eksperimentalnih tehnika s pomoću koje se mogu odrediti mikrostrukturni parametri. Prvi korak u toj analizi predstavlja uklanjanje instrumentnoga doprinosa iz ukupnoga difrakcijskog profila, tj. određivanje čistoga difrakcijskog profila, čije je proširenje uzrokovano samo mikrostrukturom. Optimalna metoda za to je primjena Stokesove dekonvolucije. U radu su prikazane osnovne metode za određivanje mikrostrukturnih parametara iz proširenja rendgenskih difrakcijskih linija: Warren-Averbachova metoda koja se temelji na analizi Fourierovih koeficijenata čistoga difrakcijskog profila, te metode koje koriste integralne širine difrakcijskih profila. Također je opisan računalni program XBroad za analizu proširenja difrakcijskih linija u kojem su implementirane Warren-Averbachova i Williamson-Hallova metoda, a koji su razvili autori ovog rada.

mikrostruktura ; rendgenska difrakcija ; polikristali

nije evidentirano