hrvatski

SEM analiza površine cijevi nakon hladnog valjanja

U ovom radu prikazani su rezultati istraživanja površine hladno valjanih cijevi iz čelika St. 52.3. Nakon ispitivanja cijevi ultrazvukom na uzorcima s površinskim pukotinama provedena je analiza optičkom i skenirajućom elektronskom mikroskopijom (SEM). Optičkom mikroskopijom utvrđeno je prisustvo nemetalnih uključaka oko pukotina. Određena je dubina pukotine te raspodjela Fe, C, Mn i O oko pukotina pomoću valno disperzijskog spektrometra. Utvrđene pukotine vjerojatno su posljedica toplog valjanja cijevi koje su se pojavile tijekom hladnog valjanja.

čelik; hladno valjanje; pukotina; mikrostruktura

nije evidentirano