izvor podataka: crosbi
✓
Quantitative analysis of deep traps in semi-insulating semiconductors (CROSBI ID 483550)
Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa | međunarodna recenzija
Pavlović, Mladen ; Desnica, Uroš Vladan
Quantitative analysis of deep traps in semi-insulating semiconductors // Zbornik sažetaka 5. susreta vakuumista Hrvatske i Slovenije / Radić, Nikola (ur.). Zagreb: Institut Ruđer Bošković, 1998. str. 7-7-x
Podaci o odgovornosti
Pavlović, Mladen ; Desnica, Uroš Vladan
engleski
Quantitative analysis of deep traps in semi-insulating semiconductors
Razvijena je nova metoda kvantitativne analize dubokih zamki u visokootpornim poluvodičima SIMPA ("Simultaneous Multiple Peak Analysis), koja omogućuje prilagođavanje (fitting) cijelog izmjerenog spektra termički stimuliranih struja (TSC).
deep levels; semi-insulating semiconductors
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
nije evidentirano
Podaci o prilogu
7-7-x.
1998.
objavljeno
Podaci o matičnoj publikaciji
Radić, Nikola
Zagreb: Institut Ruđer Bošković
Podaci o skupu
5. susret vakuumista Hrvatske i Slovenije
predavanje
20.05.1998-20.05.1998
Zagreb, Hrvatska
