Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

Study of paramagnetic defects in RTCVD polycrystalline silicon (CROSBI ID 483620)

Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa

Grozdanić, Danijela ; Rakvin, Boris ; Pivac, Branko ; Slaoui, A. ; Monna, R. Study of paramagnetic defects in RTCVD polycrystalline silicon // Zbornik radova / Radić, Nikola (ur.). Zagreb, 2002. str. 23-x

Podaci o odgovornosti

Grozdanić, Danijela ; Rakvin, Boris ; Pivac, Branko ; Slaoui, A. ; Monna, R.

engleski

Study of paramagnetic defects in RTCVD polycrystalline silicon

aa

silicon; electron paramagnetic resonance; defects

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o prilogu

23-x.

2002.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

Zbornik radova

Radić, Nikola

Zagreb:

Podaci o skupu

9. Međunarodni sastanak, Vakuumska znanost i tehnika,

poster

15.05.2002-15.05.2002

Trakošćan, Hrvatska

Povezanost rada

Fizika, Kemija