Raspršenje rentgenskih zraka sinkrotronskog izvora pri malom kutu u nanostrukturnim V/Ce oksidnim slojevima (CROSBI ID 94783)
Prilog u časopisu | izvorni znanstveni rad | međunarodna recenzija
Podaci o odgovornosti
Turković, Aleksandra ; Hrestak, Kristina ; Dubček, Pavo ; Crnjak Orel, Zorica
hrvatski
Raspršenje rentgenskih zraka sinkrotronskog izvora pri malom kutu u nanostrukturnim V/Ce oksidnim slojevima
SAXS ("small-angle X-ray scattering" ili raspršenje rentgenskih zraka pri malom kutu) podaci za V/Ce nanostrukturne okside dobiveni su sa Gabriel tipom, plinom ispunjenim 1D detektorom na sinkrotronu ELETTRA. SAXS krivulje za miješane okside mjerene su u intervalima određenih kuteva priklona. U ovom radu pokazani su rezultati SAXS-a za V/Ce oksid sa 38% atomskih udjela V.
SAXS; Tanki filmovi; V/Ce oksidi; Dip-coating ( premaz umakanjem)
nije evidentirano
engleski
Small-angle X-ray scattering of synchrotron light source on nanostructured V/Ce Oxide films
nije evidentirano
SAXS; Thin films; V/Ce-oxide; dip-coating
nije evidentirano
Podaci o izdanju
44 (3-6)
2002.
179-185-x
objavljeno
0562-1887
