VODLJIVOST KOMPOZITNIH TANKIH FILMOVA OD SILICIJA (CROSBI ID 740888)
Prilog sa skupa u časopisu | izvorni znanstveni rad
Podaci o odgovornosti
Tudić, Vladimir ; Luke, Tomislav
hrvatski
VODLJIVOST KOMPOZITNIH TANKIH FILMOVA OD SILICIJA
Poluvodička svojstva kompozitnih tankih filmova od silicija dobivenih jednom od poznatih tehnologija nanošenja (CVD) presudne su za realiziranje učinkovitih solarnih ćelija. Velika složenost mikrostrukture tankog filma od nekoliko stotina nanometara i postojanje mnoštva kristala utvrđena su prethodnim istraživanjem nekoliko grupa autora korištenjem odgovarajućih metoda i postupaka, mikroskopske topografije atomske strukture i mjerenjem lokalne struje. Za utvrđivanje karakteristika vodljivosti tankih filmova korištene su razne metode koje su imale cilj usporediti aktivacijsku energiju Eact i konstantu najjednostavnijeg transportnog svojstva SigmaD tamne vodljivost strukture bez prisutnosti svjetla. Specifična vodljivost mjerena je paralelno sa supstratom na velikom broju uzoraka različitih kristaliničnih omjera različitih debljina na relativno visokim temperaturama 200K-400K i u širokom frekvencijskom opsegu. Rezultati istraživanja DC vodljivosti kompozitnih slojeva ukazuju na moguće modele transporta većinskih nosilaca naboja koji ukazuju na činjenicu da formacije zrna i njihovih skupina značajno mijenja mehanizam transporta energetskim pojasom.
kompozitni, lokalna struja, mikroskopska topografija, model transporta, vodljivost
nije evidentirano
engleski
Silicon Composite Thin Film Conductivity
nije evidentirano
composite, dark conductivity, local current, microstructural properties, transport model
nije evidentirano
Podaci o prilogu
---.
2014.
nije evidentirano
objavljeno
Podaci o matičnoj publikaciji
Zbornik Veleučilišta u Karlovcu
1848-3038
1849-112X
Podaci o skupu
Nepoznat skup
ostalo
29.02.1904-29.02.2096